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镀层厚度分析仪测厚仪XRF仪器

更新时间:2025-03-27 17:16:43 编号:d7e2q7ngf91e7
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  • 金属镀层分析仪,X荧光光谱仪,X荧光分析仪,XRF仪器

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孙经理

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镀层厚度分析仪测厚仪XRF仪器

关键词
天瑞仪器,测厚仪,光谱仪,
面向地区

镀层范围0.005~50微米元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%

X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料,通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测,可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求,提高产品的质量和生产效率。

天瑞仪器是一家生产测量仪器的公司,其中荧光镀层测厚仪是其一款产品。

荧光镀层测厚仪是一种用来测量材料表面上的荧光涂层厚度的仪器。使用荧光测厚仪可以快速、准确地测量出涂层的厚度,以确保产品质量符合标准要求。

天瑞仪器的荧光镀层测厚仪具有、高稳定性、易操作等优点,广泛应用于电子、汽车、化工、航空航天等领域。

想要了解更多关于天瑞仪器荧光镀层测厚仪的信息,可以访问其网站或联系他们的客服人员。

设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,减少摆放样品时间。全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

软件优势
1、清晰化操作界面布局
简约的布局设计,让操作员快速的掌握软件基本操作。
2、快捷键按钮设计
增加了日常镀层测量快捷键设计按钮,可快速检测,提升工作效率。
3、高清可视化窗口
可清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过自动对焦、移动快捷键,调节到用户理想的观测效果。
4、多通道数字谱图界面
清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合的解谱技术,便可计算出结果。
5、测试结果汇总布局设计
可快速查找当前测试数据,并可对测试数据进行报告生成,且快速查询以往测试数据。

EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

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详细资料

主营行业:涂层检测仪
公司主营:镀层测厚仪,rohs检测仪器,手持式光谱仪,土壤重金属检测仪
主营地区:江苏昆山
企业类型:股份有限公司(上市)
注册资金:人民币461760000万
公司成立时间:2006-07-04
员工人数:500-999
经营模式:服务型
最近年检时间:2018年
登记机关:苏州市工商行政管理局
经营范围:制造:原子荧光光谱仪、气相色谱仪、原子吸收分光光度计。研究、开发、生产、销售、技术服务:化学分析仪器、环境检测仪器、生命科学仪器、测量与控制仪器、医疗器械;研究、开发、制作软件产品,销售自产产品;货物及技术的进出口业务;自有房屋租赁;计算机信息系统集成;环境检测、空气质量检测、水质监测、土壤检测;环境工程、市政工程、水利工程的咨询、设计、施工及运营管理。(前述经营项目中法律、行政法规规定前置许可经营、限制经营、禁止经营的除外)(依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动)
公司邮编:215300
公司电话:0511-57017357
公司传真:0512-50355809
公司邮箱:493963787@qq.com
公司网站:www.skyray-instrument.com
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