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膜厚仪金属膜厚分析仪X荧光光谱仪

膜厚仪金属膜厚分析仪X荧光光谱仪

更新时间：2025-02-08 17:33:35 编号：s626dksom2e596
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膜厚仪金属膜厚分析仪X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司介绍

分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米元素范围从硫到铀

镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

应用领域
分析超薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
测量超小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及电镀液分析
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

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